ZXJF-2010數(shù)字式局部放電檢測儀
ZXJF-2010數(shù)字式局部放電巡檢儀是測量、分析電力設(shè)備絕緣性能的專用儀器。
參考標(biāo)準(zhǔn)：DL/T 593、GB/T 7354
● 攜帶方便、測量快速，抗干擾能力強(qiáng)
● 采用自動(dòng)或手動(dòng)記錄保存試驗(yàn)數(shù)據(jù)和瞬態(tài)放電波形
● 具有時(shí)域圖形、2D、3D統(tǒng)計(jì)圖譜、報(bào)警歷史、脈沖計(jì)數(shù)等功能
說明書
操作視頻ZXJF-2010數(shù)字式局部放電巡檢儀是測量、分析電力設(shè)備絕緣性能的專用儀器；本系統(tǒng)采用現(xiàn)代電子和計(jì)算機(jī)綜合技術(shù)，實(shí)現(xiàn)信號放大（模擬、電子、數(shù)字）、濾波、數(shù)據(jù)采集、數(shù)據(jù)處理、圖形顯示、試驗(yàn)報(bào)告自動(dòng)生成，從而完成局部放電的測量，分析。
1.本儀器攜帶方便、測量快速，抗干擾能力強(qiáng)，便于現(xiàn)場使用。
2.配置軟件具有時(shí)域圖形、2D、3D統(tǒng)計(jì)圖譜、報(bào)警歷史、脈沖計(jì)數(shù)等功能，軟件也可以詳查分析某個(gè)相位波形，窗口隨意放大和縮小，也可以對該段數(shù)據(jù)進(jìn)行頻譜分析，分析放電波形的頻譜含量，使放電波形之間更具可比性，全面統(tǒng)計(jì)分析試驗(yàn)數(shù)據(jù)，減少試驗(yàn)中非穩(wěn)定性因素對試驗(yàn)結(jié)果的影響。
3.采用自動(dòng)或手動(dòng)記錄保存試驗(yàn)數(shù)據(jù)和瞬態(tài)放電波形，可對后期數(shù)據(jù)分析提供參考。
| 技術(shù)特性 | |
| 通道數(shù) | 2個(gè)電信號接口，一個(gè)外同步接口 |
| 采樣率 | 0.5M、1M、2.5M、5M、10M、20M可選 |
| 采樣精度 | 12bit |
| 量程切換 | 60dB、40dB、20dB、0dB、-20dB共5檔 |
| 頻帶范圍 | 20k-100kHz、80k-200kHz、40k-300kHz |
| 本量程非線性誤差 | 5% |
| 顯示 | |
| 顯示屏 | 7” TFT真彩色觸摸液晶顯示屏 |
| 分辨率 | 800×480 |
| 存儲 | |
| 物理存儲 | 256MB DDR2，為運(yùn)行內(nèi)存 |
| SD卡存儲 | 標(biāo)配4G卡，可升級為32G，用于存儲試驗(yàn)記錄及試驗(yàn)數(shù)據(jù) |
| 接口 | |
| RS232 | 用于與PC機(jī)同步傳輸接口 |
| USB | 可外接鼠標(biāo)鍵盤，以及外接移動(dòng)存儲設(shè)備 |
| 電源模式 | 電池供電（16.8V鋰電池）+外置電源（18V）可連續(xù)提供8小時(shí)供電 |
| 電信號接口 | 2路BNC接口(前后面板各兩個(gè))，用于信號輸入 |
| SMA接口 | 外同步接口 |
| SD卡插槽 | 可插入支持32G的SD卡 |
| 網(wǎng)口 | 可擴(kuò)展 |
| 接地鈕 | 外部接地用 |
| 通用說明 | |
| CPU | 主頻533MHz |
| 系統(tǒng) | WINCE6.0 |
| 使用環(huán)境溫度 | -20℃至45℃ |
| 存儲環(huán)境溫度 | -20℃至60℃ |
| 尺寸 | 長×寬×高：249mm × 216mm × 167mm |
| 重量 | 4.7kg |
注：了解更多國電中星產(chǎn)品信息請進(jìn)入 產(chǎn)品中心 。服務(wù)熱線：400-0828-027
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