SF6高壓斷路器氣體檢漏現(xiàn)場試驗(yàn)方法

SF6氣體檢漏方法

SF6漏氣分析：

漏氣隱蔽性強(qiáng)，不能直接被發(fā)現(xiàn)，需要用科學(xué)的方法進(jìn)行漏點(diǎn)查找；

漏氣壓力降低將導(dǎo)致設(shè)備耐壓強(qiáng)度降低與開斷容量下降；

反復(fù)補(bǔ)氣，加之補(bǔ)氣工藝失控，容易導(dǎo)致氣體微水超標(biāo)，斷路器整體性能劣化；

漏點(diǎn)類型多樣，不光是密封件問題，澆注口砂眼、焊縫砂眼、密封槽尺寸、壓力表漏氣等因素占有一定比例。

SF6易泄漏部位：

對220kV的SF6高壓斷路器各檢測口、焊接縫、SF氣體充氣嘴、法蘭轉(zhuǎn)接面、壓力表連接管和滑動(dòng)密封底座；

對35kV和10kV的SF6斷路器SF6氣體充氣嘴、操作機(jī)構(gòu)、導(dǎo)電桿環(huán)氧樹脂密封處及壓力表連接管路。

檢漏方法：

目前，檢測SF6氣體泄漏的方法主要有整體法、簡易定性檢漏、局部包扎法等，各種檢漏方法均有其劣點(diǎn)，僅靠其中任何一種方法來進(jìn)行檢漏達(dá)不到滿意的效果。因此,在現(xiàn)場多用幾種方法來進(jìn)行檢漏，稱之為綜合檢漏法?，F(xiàn)就幾種常用檢漏方法的現(xiàn)場應(yīng)用特點(diǎn)作一介紹。

整體法，為測量整臺(tái)斷路器的年漏氣率要采用特制的密封容器，例如特制的塑料袋把整臺(tái)斷路器罩起來,經(jīng)過一定時(shí)間(如8h)，測量塑料袋內(nèi)SF氣體濃度，再根據(jù)塑料袋與斷路器本體的體積之差來計(jì)算年漏氣率。這種方法理論上完全正確,只適合于較小開關(guān)設(shè)備在制造廠進(jìn)行。

定性檢漏儀報(bào)警檢漏法，定性檢漏儀使用簡單，通常有高低2檔靈敏度調(diào)節(jié)。使用時(shí)，一般先打開高靈敏度檔位，比較容易檢測到漏點(diǎn)。用探頭沿可能漏氣的接頭、法蘭、閥門部位慢速移動(dòng),檢漏儀發(fā)生報(bào)警時(shí)按下復(fù)位按鈕，可停止報(bào)警。反復(fù)探測，若均有報(bào)警,則可判斷有漏點(diǎn)存在，可切換到低靈敏度檔位進(jìn)一步驗(yàn)證。

SF6氣體檢漏儀帶有氣體濃度的強(qiáng)度指示燈或數(shù)據(jù)顯示，以強(qiáng)度指示燈亮起的多少、數(shù)據(jù)的大小變化判斷報(bào)警點(diǎn)距離漏點(diǎn)的距離,反復(fù)探測,逐漸接近漏點(diǎn)。定性檢漏儀檢漏的缺點(diǎn)是，探頭移動(dòng)不穩(wěn)或有風(fēng)會(huì)發(fā)生誤報(bào)警，需要反復(fù)驗(yàn)證；雖能確定漏點(diǎn)的范圍，但無法定位具體漏點(diǎn)；不能探測帶電的設(shè)備本體。

壓力下降法，用精密壓力表測量SF6氣體壓力,隔數(shù)天至數(shù)十天后再復(fù)測一次,結(jié)合溫度換算來檢查壓力降低多少。此法精度不高,但簡單易行。

分割定位法，此法適用于三相SF6氣路連通的斷路器,查找微小漏氣很困難，就可采用該法逐步縮小被檢測的范圍。

局部包扎法，用塑料布將待測的部位包扎起來，經(jīng)過一定時(shí)間,如4~6h后，再用檢漏儀對塑料袋內(nèi)部進(jìn)行定性或定量檢測。實(shí)踐證明，用定性檢測效果很好。

綜上所述，各種檢漏方法各有利弊，沒有萬能的檢漏方法，只有根據(jù)不同設(shè)備、現(xiàn)場條件選擇檢漏方法，或幾種檢漏方法組合使用，方能達(dá)到最佳效果。
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